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A tunable strain sensor using nanogranular metals

  • This paper introduces a new methodology for the fabrication of strain-sensor elements for MEMS and NEMS applications based on the tunneling effect in nano-granular metals. The strain-sensor elements are prepared by the maskless lithography technique of focused electron-beam-induced deposition (FEBID) employing the precursor trimethylmethylcyclopentadienyl platinum [MeCpPt(Me)3]. We use a cantilever-based deflection technique to determine the sensitivity (gauge factor) of the sensor element. We find that its sensitivity depends on the electrical conductivity and can be continuously tuned, either by the thickness of the deposit or by electron-beam irradiation leading to a distinct maximum in the sensitivity. This maximum finds a theoretical rationale in recent advances in the understanding of electronic charge transport in nano-granular metals.

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Verfasserangaben:Christian H. Schwalb, Christina Grimm, Markus Baranowski, Roland Sachser, Fabrizio PorratiORCiD, Heiko Reith, Pintu Das, Jens MüllerORCiDGND, Friedemann VölkleinGND, Alexander Kaya, Michael HuthORCiDGND
URN:urn:nbn:de:hebis:30:3-242736
DOI:https://doi.org/10.3390/s101109847
ISSN:1424-8220
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Sensors
Verlag:MDPI
Verlagsort:Basel
Dokumentart:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Datum der Veröffentlichung (online):13.06.2012
Datum der Erstveröffentlichung:02.11.2010
Veröffentlichende Institution:Universitätsbibliothek Johann Christian Senckenberg
Datum der Freischaltung:13.06.2012
Psyndex-Schlagwort:cantilevers; electron beam induced deposition; granular metals; strain sensors
Jahrgang:10
Ausgabe / Heft:11
Seitenzahl:10
Erste Seite:9847
Letzte Seite:9856
HeBIS-PPN:303611480
Institute:Physik / Physik
DDC-Klassifikation:6 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / 67 Industrielle Fertigung / 670 Industrielle Fertigung
Sammlungen:Universitätspublikationen
Lizenz (Deutsch):License LogoCreative Commons - Namensnennung 3.0