Aufbau eines Messstandes zur Charakterisierung von GEM-Detektoren

  • Zunächst sind einige Methoden und Techniken zusammenfassend aufzuzählen, welche mir in meiner Zeit am IKF nahegebracht wurden. Von technischer Seite her sind hier der Umgang mit der Instituts-eigenen Lichtmikroskop und den pA-Messgeräten sowie der analogen Messkette zu nennen. Außerdem gegebenen GEM-Folien auf Fehlstellen zu untersuchen, sie unter Spannung zu testen und anschließen in die Testkammer zu montieren und diese anschließend ordnungsgemäß in Betrieb zu nehmen. Während des Betriebs der Kammer sind neben den Messungen selbst auch die Programmierung in C++ um ein vorhandenes GUI zu verstehen und erweitern zu können zu nennen. In der Analyse der gewonnenen Daten ist vor allem die im Institut verbreiteten Analyse-Software „Root“ zu nennen um Daten zu verarbeiten, zu plotten und zu fitten. Der physikalische Gehalt der Messungen war in Folge der ersten Messung nicht mit Sicherheit zu bestimmen, da die Raten-Abhängigkeit des IB entweder grundlegender physikalischer oder technischer Natur sein konnte, was näher zu untersuchen blieb. Nach wiederholter Messung mit größerem Messbereich und einer zweiten Messreihe mit einer anderen Gas-Mischung konnten jedoch Aussagen getroffen werden. So konnte in der Argon-Messung die gleiche Raten-Abhängigkeit des IBF wie zuvor festgestellt werden, während der IBF in der Neon-Mischung kaum merklich anstieg. Außerdem ist festzuhalten, dass Messungen an der Kathode nur über 10 pA problemlos genau sind. Darunter werden die Werte bei zu wenig Messzeit weniger aussagekräftig.

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Metadaten
Author:David Henry Just
URN:urn:nbn:de:hebis:30:3-334522
URL:http://www2.uni-frankfurt.de/49424950/just-bachelor.pdf
Referee:Harald AppelshäuserGND, Christoph BlumeORCiDGND
Advisor:Rainer Arno Ernst Renfordt
Document Type:Bachelor Thesis
Language:German
Year of Completion:2014
Year of first Publication:2014
Publishing Institution:Universitätsbibliothek Johann Christian Senckenberg
Granting Institution:Johann Wolfgang Goethe-Universität
Release Date:2015/02/05
HeBIS-PPN:341318345
Institutes:Physik / Physik
Dewey Decimal Classification:5 Naturwissenschaften und Mathematik / 53 Physik / 530 Physik
Sammlungen:Universitätspublikationen
Licence (German):License LogoDeutsches Urheberrecht