Die Untersuchung von LT-GaAs submm-Quellen für radioastronomische Anwendungen mit Hilfe ortsaufgelöster Nahfeld-Anregung

  • Aufgebautes Zwei-Farben Lasersystem: Das für diese Arbeit aufgebaute Zwei-Farben Lasersystem erfüllt im Hinblick auf Abstimmbarkeit wie auch auf die erreichbare Ausgangsleistung die für diese Arbeit gesetzten Ziele. Für weiterführende Experimente muss allerdings berücksichtigt werden, dass für eine Steigerung der Ausgangsleistung, wie auch eine weiterführende Stabilisierung weitere Untersuchungen nötig sind, bei denen aber das jetzige System als Grundlage dienen kann und die mit ihm gewonnenen Erkenntnisse berücksichtigt werden müssen. Auch die verwendete Nahfeld-Beleuchtung erfüllt vor allem mit der automatischen Steuerung verknüpft wertvolle Dienst bei der Charakterisierung der untersuchen LT-GaAs Photomischer. Dieses System ist allerdings nicht geeignet, als direkter Entwurf für das endgültige System des SOFIA- oder ALMA-Projektes anzusehen, was auch nie seine Aufgabe war. Numerische Simulation: Die in dieser Arbeit vorgestellte numerische Simulation des DC-Stromverhaltens stellt einen guten Ansatz dar, die Effekte, die durch eine inhomogene Beleuchtung der Photomischer bedingt durch die verwendete Glasfaser entstehen, quantitativ und qualitativ zu erfassen und sie mit realen Photomischern und den durchgeführten Messungen in Verbindung zu bringen. Durchgeführte Nahfeld-Messungen: Die in dieser Arbeit vorgestellten automatischen Nahfeld-Messungen über einen 1D- und 2D-Bereich ermöglichen mit Hilfe des aufgebauten Lasersystems die in dieser Arbeit untersuchten LT-GaAs Photomischer in ihrem Verhalten zu untersuchen, wie es auch möglich ist, ein vollständiges Kennlinien-Feld aufzunehmen.

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Metadaten
Author:Frank Siebe
URN:urn:nbn:de:hebis:30-12524
Document Type:Doctoral Thesis
Language:German
Date of Publication (online):2005/07/19
Year of first Publication:2005
Publishing Institution:Universitätsbibliothek Johann Christian Senckenberg
Granting Institution:Johann Wolfgang Goethe-Universität
Date of final exam:2005/04/05
Release Date:2005/07/19
HeBIS-PPN:129639222
Institutes:Physik / Physik
Dewey Decimal Classification:5 Naturwissenschaften und Mathematik / 53 Physik / 530 Physik
Licence (German):License LogoDeutsches Urheberrecht