Präparation und Charakterisierung von Self-Assembled Monolayers auf Germaniumoberflächen

Preparation and characterisation of self-assembled monolayers on Germanium surfaces

  • Es ist gelungen, self-assembled Monolayers auf Wasserstoff-terminierten Germaniumoberflächen zu präparieren. Für die Charakterisierung wurden unterschiedliche Methoden herangezogen. Neben der Oberflächentopographie, die mit dem AFM untersucht wurde, konnten die Proben durch röntgenspektroskopische Methoden qualitativ und quantitativ vor, während und nach der Präparation analysiert werden. Im Zusammenspiel dieser Methoden war eine umfassende Interpretation der Ergebnisse möglich, die viele neue Erkenntnisse im Bereich der Grundlagenforschung auf dem Halbleitersubstrat Germanium (Ge) ermöglichten. Motivation für diese Arbeit war das Interesse, Ge als Substrat im Bereich der Halbleitertechnologie zu verwenden. Ge hat eine bessere Ladungsträgerbeweglichkeit und andere Vorteile gegenüber Silicium (Si). Der Einsatz scheitert momentan, da das ca. 1-2 nm dicke native Oxid auf der Oberfläche des Ge anders als beim Si wasserlöslich ist. Daher ist eine Renaissance der Grundlagenforschung auf diesem Gebiet zu verzeichnen. Auf der Suche nach einer definierten und passivierten Oberfläche lag der Gedanke nah, dieses Ziel durch das Self-Assembly thiolischer Alkane zu erreichen. Diese Methode ist auf Goldoberflächen sehr gut erforscht und man erhält aus einer entsprechenden Lösung durch einfachste nasschemische Präparation eine bei Laborbedingungen stabile Monolage. Um das Konzept der self-assembled Monolayers auf Ge zu übertragen, war es zunächst notwenig, die Oxidschicht des Substrats so zu entfernen, so dass eine Wasserstoff-terminierte Oberfläche zurückbleibt, die eine möglichst geringe Rauheit aufweist. Dies gelang letztendlich mit einem Tauchbad in verdünnter oder konzentrierter Fluorwasserstoffsäure (Flusssäure, HF) für 5 min bzw. 40 s. Die Rauheit der Proben wurde durch AFM-Aufnahmen bestimmt und liegt bei RMS=0,34 nm. Die chemische Beschaffenheit wurde durch XPS und Totalreflexionsröntgenfluoreszenz am Synchrotron (Sr-TXRF) untersucht. Die referenzfreie Quantifizierung zeigte, dass sich auf der Oberfläche noch Sauerstoff befand, der durch XPS auch dem auf der Oberfläche verbliebenem Wasser zugeordnet werden konnte. Durch Untersuchungen an der Absorptionskante des Sauerstoffs mit NEXAFS konnte diese These untermauert werden. In einem nächsten Schritt gelang die Präparation der SAMs mit Molekülen mit unterschiedlichen Kopfgruppen. Diese definierten die neuen Eigenschaften der Substratoberfläche und sind auch für die Verwendung des Substrats von großer Bedeutung. Es wurden die Kopfgruppen so gewählt, dass eine Detektion durch röntgeninduzierte Fluoreszenz möglich war. Daher fiel die Wahl auf ein fluoriertes Acetat und eine Phosphorsäure als Kopfgruppe jeweils eines Mercaptoundecans. Als Lösemittel diente schließlich wasserfreies Dichlorethan. Für die Abbildung der zunächst in Inseln wachsenden Monolage durch das AFM war die Kopfgruppe zwar unerheblich. Mit dieser Methode ließ sich der Einfluss der Kopfgruppe auf die Anordnung dokumentieren. Es war bei ausgewählten Proben möglich, eine Bedeckung der Oberfläche mit den Thiolen per AFM zu vermessen. Diese lag bei ca. 50 %. Ein Nachweis der Moleküle erfolgte unter anderem durch XPS. Durch diese Methode konnte allerdings noch nicht nachgewiesen werden, ob die Moleküle nur ungeordnet auf der Oberfläche adsorbiert sind, oder tatsächlich chemisch gebunden und aufgerichtet sind. Dies erfolgte durch Messungen an der Synchrotronstrahlenquelle. Durch referenzfreie TXRF konnte die Belegung des Substrats mit Fluor analysiert werden. Da das Fluor jedoch auch ein Rückstand des HF-Tauchbades hätte sein können, wurde durch NEXAFS nachgewiesen, dass bei den Proben, die lange in thiolischer Lösung waren, die Fluorspezies, die bei den frisch HF-getauchten Proben vorhanden ist, praktisch nicht mehr existiert. Im Umkehrschluss wurde auch eine auf Gold präparierte Monolage des gleichen Moleküls mit NEXAFS vermessen. Die Fluorspektren ähnelten sich trotz des unterschiedlichen Substrats. Bei der Röntgenfluoreszenz am Glanzwinkel (GIXRF) können Intensitätsmaxima ein stehendes Wellenfelds oberhalb des Substrats abhängig vom Winkel des einfallenden Strahls verändert werden. Diese Methode kam zum Einsatz um nachzuweisen, dass sich die Moleküle der Kopfgruppe oberhalb des Schwefels und oberhalb des Ge befinden. Durch mathematische Berechnungen ist man in der Lage, die Höhe der Monolage und den Verkippungswinkel der Moleküle zu ermitteln. Dieser lag bei ca. 45° und einer 1,4 nm hohen Monolage. Diese Aussagen wiederum stimmen mit den am AFM erzielten Ergebnissen in erster Näherung überein. Durch das Zusammenspiel fünf unterschiedlicher Methoden war es möglich, diese vielfältigen Erkenntnisse in dem Forschungsfeld der Ge-Oberflächen zu generieren.
  • In contrast to self-assembled monolayers on gold, there is a lack of suitable methods for the necessary pre-treatment of the substrate and the process of self-assembly on germanium. Organic molecules with thiol anchor groups are able to bond to hydrogenterminated germanium surfaces (Ge-S bond) as well as to gold surfaces. We have prepared SAMs of alkylthiols with different head groups on germanium and gold (as reference). The surface has been characterised prior to and after SAM formation by Near-Edge X-Ray Absorption Fine-Structure (NEXAFS) spectrometry with synchrotron radiation. We succeeded in distinguishing the fluorine of the thiol head group from the fluorine residue of the preceding dip in HF on germanium on the basis of their peaks in NEXAFS spectra. Grazing Incidence X-Ray Fluorescence (GIXRF) provided information about the tilt angle of each monolayer. The F-NEXAFS spectra of SAMs on gold support our assumption of selfassembled monolayers on germanium surfaces. Using the same method to determine the monolayer coverage on gold we estimated that up to 80% of the germanium surface is covered by a self-assembled monolayer. In addition we were able to demonstrate, that SAMs of alkylthiols with different head groups self-assemble on germanium surfaces. These results are supported by GIXRF and NEXAFS measurements. Nevertheless further investigations are necessary to determine the optimum conditions for self assembly.

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Metadaten
Author:Martin LommelGND
URN:urn:nbn:de:hebis:30-75771
Referee:Bernd O. KolbesenGND, Bernd BrutschyGND
Advisor:Bernd O. Kolbesen
Document Type:Doctoral Thesis
Language:German
Year of Completion:2009
Year of first Publication:2009
Publishing Institution:Universitätsbibliothek Johann Christian Senckenberg
Granting Institution:Johann Wolfgang Goethe-Universität
Date of final exam:2010/03/15
Release Date:2010/03/31
Tag:GIXRF; Self-Assembled Monolayer
Germanium; NEXAFS; Self-Assembled Monolayer; Semiconductor; Surface
GND Keyword:Germanium; Halbleiteroberfläche; Monoschicht; Röntgenfluoreszenzspektroskopie; Totalreflexionsröntgenfluoreszenzanalyse; Kraftmikroskopie
Page Number:201
HeBIS-PPN:222159278
Institutes:Biochemie, Chemie und Pharmazie / Biochemie und Chemie
Dewey Decimal Classification:5 Naturwissenschaften und Mathematik / 54 Chemie / 540 Chemie und zugeordnete Wissenschaften
PACS-Classification:60.00.00 CONDENSED MATTER: STRUCTURAL, MECHANICAL, AND THERMAL PROPERTIES / 61.00.00 Structure of solids and liquids; crystallography (for surface, interface, and thin film structure, see section 68) / 61.05.-a Techniques for structure determination; Microscopy of surfaces, interfaces, and thin films, see 68.37.-d / 61.05.C- X-ray diffraction and scattering (for x-ray diffractometers, see 07.85.Jy; for x-ray studies of crystal defects, see 61.72.Dd, Ff) / 61.05.cj X-ray absorption spectroscopy: EXAFS, NEXAFS, XANES, etc. (for x-ray and EXAFS applications in biological physics, see 87.64.kd)
80.00.00 INTERDISCIPLINARY PHYSICS AND RELATED AREAS OF SCIENCE AND TECHNOLOGY / 81.00.00 Materials science / 81.16.-c Methods of nanofabrication and processing (for femtosecond probing of semiconductor nanostructures, see 82.53.Mj in physical chemistry and chemical physics) / 81.16.Dn Self-assembly
80.00.00 INTERDISCIPLINARY PHYSICS AND RELATED AREAS OF SCIENCE AND TECHNOLOGY / 81.00.00 Materials science / 81.65.-b Surface treatments (see also 85.40.-e Microelectronics: LSI, VLSI, ULSI; integrated circuit fabrication technology) / 81.65.Rv Passivation (see also 82.45.Bb Corrosion and passivation in electrochemistry)
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