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Analyzing interest rate risk: stochastic volatility in the term structure of government bond yields

  • We propose a Nelson-Siegel type interest rate term structure model where the underlying yield factors follow autoregressive processes with stochastic volatility. The factor volatilities parsimoniously capture risk inherent to the term structure and are associated with the time-varying uncertainty of the yield curve’s level, slope and curvature. Estimating the model based on U.S. government bond yields applying Markov chain Monte Carlo techniques we find that the factor volatilities follow highly persistent processes. We show that slope and curvature risk have explanatory power for bond excess returns and illustrate that the yield and volatility factors are closely related to industrial capacity utilization, inflation, monetary policy and employment growth. JEL Classification: C5, E4, G1

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Metadaten
Verfasserangaben:Nikolaus HautschORCiDGND, Yangguoyi Ou
URN:urn:nbn:de:hebis:30-63749
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Center for Financial Studies (Frankfurt am Main): CFS working paper series ; No. 2009,03
Schriftenreihe (Bandnummer):CFS working paper series (2009, 03)
Dokumentart:Arbeitspapier
Sprache:Englisch
Jahr der Fertigstellung:2009
Jahr der Erstveröffentlichung:2009
Veröffentlichende Institution:Universitätsbibliothek Johann Christian Senckenberg
Datum der Freischaltung:16.04.2009
Freies Schlagwort / Tag:Factor Models; Macroeconomic Fundamentals; Stochastic Volatility; Term Structure Modelling; Yield Curve Risk
GND-Schlagwort:Zinsänderungsrisiko
HeBIS-PPN:211593699
Institute:Wissenschaftliche Zentren und koordinierte Programme / Center for Financial Studies (CFS)
DDC-Klassifikation:3 Sozialwissenschaften / 33 Wirtschaft / 330 Wirtschaft
Lizenz (Deutsch):License LogoDeutsches Urheberrecht